ข้อมูลบริการ

รายละเอียดบริการ

บริการวิเคราะห์ทดสอบเทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบแสกนนิง หรือ SEM (Scanning Electron Microscopy) โดย ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ (MTEC) สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ (สวทช.) ให้บริการวิเคราะห์ทดสอบและศึกษาวัสดุโดยใช้การกวาดลำอิเล็กตรอนบนผิววัสดุนั้น แล้วนำสัญญาณที่ได้ เช่นสัญญาณอิเล็กตรอนทุติยภูมิ และสัญญาณอิเล็กตรอนกระเจิงกลับไปสร้างเป็นภาพ

ภาพที่ได้จากกล้อง SEM เป็นภาพที่กำลังขยายสูง และสามารถแยกแยะรายละเอียดของภาพได้ ถึง 100 นาโนเมตร และมีลักษณะเสมือน 3 มิติ ที่มีระยะชัดลึกสูง ทำให้สามารถระบุ ลักษณะของพื้นผิวของงานได้อย่างชัดเจน

เครื่องมือและอุปกรณ์

1. JEOL รุ่น JSM-7800F (Prime)

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนรุ่นนี้ ใช้แหล่งกำเนิดอิเล็กตรอนแบบฟิลด์อิมิชชั่น (field emission electron gun) ให้กำลังแยกแยะเชิงระยะทางได้ประมาณ 0.8 nm. สามารถขยายภาพได้สูงถึง 1,000,000 เท่า (ความคมชัดขึ้นกับชนิดของวัสดุและสภาวะการใช้งาน)

กล้องนี้มีอุปกรณ์ตรวจจับสัญญาณอิเล็กตรอนแบบทุติยภูมิ (secondary electron) อุปกรณ์ตรวจจับสัญญาณอิเล็กตรอนแบบกระเจิงกลับ (backscattered electron) อุปกรณ์วิเคราะห์สัญญาณเอกซเรย์ระดับพลังงานปานกลาง (ไม่เกิน 20 Kv) หรืออุปกรณ์วิเคราะห์ธาตุเชิงพลังงาน (Energy Dispersive Spectrometer-EDS)) และอุปกรณ์วิเคราะห์สัญญาณเอกซเรย์ระดับพลังงานต่ำ (ไม่เกิน 5 Kv) (Soft X-ray Emission Spectrometer-SXES)) 

1. JEOL รุ่น JSM-5410

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนรุ่นนี้ ใช้แหล่งกำเนิดอิเล็กตรอนแบบเทอร์มิออนิก (Thermionic emission electron gun) สามารถให้กำลังแยกแยะเชิงระยะทางได้ ประมาณ 3.5 nm. ที่ 30 Kv สามารถขยายภาพได้สูงถึง 300,000 เท่า (ความคมชัดขึ้นกับชนิดของวัสดุและสภาวะการใช้งาน) 

กล้องนี้มีอุปกรณ์ตรวจวัดอิเล็กตรอนแบบทุติยภูมิ (secondary electron) และยังต่อกับอุปกรณ์วิเคราะห์สัญญาณ เอกซเรย์ระดับพลังงานปานกลาง (ไม่เกิน 20 Kv) หรืออุปกรณ์วิเคราะห์ธาตุเชิงพลังงาน (Energy Dispersive Spectrometer – EDS) ของบริษัท Oxford รุ่น INCA 300

1. Hitachi รุ่น 3400N Type II

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนรุ่นนี้ใช้แหล่งกำเนินดอิเล็กตรอนแบบเทอร์มิออนิก (thermionic emission electron gun) ได้ทั้งในสภาวะสุญญากาศสูงและต่ำ สามารถแยกแยะเชิงระยะทางได้ประมาณ 3 nm ที่สภาวะสุญญากาศสูง และ 4 nm ที่สภาวะสุญญากาศต่ำ และสามารถขยายภาพได้ถึง 300,000 เท่า (ความคมชัดขึ้นกับชนิดของวัสดุและสภาวะการใช้งาน) 

กล้องนี้มีอุปกรณ์ตรวจจับอิเล็กตรอนแบบทุติยภูมิ (secondary electron) อุปกรณ์ตรวจจับสัญญาณอิเล็กตรอนแบบกระเจิงกลับ (backscattered electron) อุปกรณ์วิเคราะห์สัญญาณเอ็กซเรย์ระดับพลังงานปานกลาง (ไม่เกิน 20 Kv) หรืออุปกรณ์วิเคราะห์ธาตุเชิงพลังงาน (Energy Dispersive Spectrometer – EDS) และอุปกรณ์วิเคราะห์เฟสโครงสร้าง ของบริษัท EDAX รุ่น TEAM (full option) และ TSL/OIM ตามลำดับ

ความสามารถ

• ศึกษาลักษณะพื้นผิว ขนาด รูปร่างของวัสดุ
• ศึกษาโครงสร้างจุลภาค ขอบเกรน และการกระจายของเฟส
• วิเคราะห์ลักษณะชั้นเคลือบ 
• ศึกษาลักษณะที่เปลี่ยนไปของวัสดุเมื่อผ่านการใช้งาน
• วิเคราะห์ส่วนผสมทางเคมี
• ศึกษาการจัดเรียงตัวของผลึก
• ศึกษาความเข้ากันได้ของเนื้อวัสดุ

ขั้้นตอนในการให้บริการทดสอบ 

  1. ผู้สนใจขอรับบริการแจ้งความประสงค์ขอรับบริการ

  2. หน่วยงานประเมินการทดสอบ การเตรียมตัวอย่าง รวมทั้งค่าบริการทดสอบ 

  3. ผู้รับบริการกรอกแบบฟอร์มค่าบริการ ส่งตัวอย่าง

  4. หน่วยงานดำเนินการวิเคราะห์ทดสอบตามขอบเขตงานของผู้รับบริการ และจัดทำรายงานผลการวิเคราะห์ทดสอบและจัดทำใบแจ้งหนี้ส่งผู้รับบริการ 

  5. เมื่อผู้รับบริการชำระค่าใช้จ่ายแล้วจะออกหลักฐานการชำระเงินส่งให้ผู้รับบริการ

สิ่งที่ส่งมอบ

รายงานผลการวิเคราะห์ทดสอบ

ประโยชน์ที่ผู้รับบริการจะได้รับ

สามารถลดค่าใช้จ่ายของการทดสอบผลิตภัณฑ์จากเดิมที่จะต้องส่งไปทดสอบยังต่างประเทศ

สร้างความเชื่อมั่นให้กับผู้ใช้งานว่าผลิตภัณฑ์นั้นได้ผ่านการทดสอบตามาตรฐานและมีความปลอดภัยน่าเชื่อถือ

สร้างมูลค่าเพิ่มและยกระดับสินค้าที่ผ่านการทดสอบจากหน่วยงานทดสอบที่มีความน่าเชื่อถือ

สามารถนำไปใช้ประกอบการขอรับรองผลิตภัณฑ์ อาทิ สำนักงานมาตรฐานอุตสาหกรรม ในการขอเครื่องหมายรับรองมาตรฐาน มอก. เครื่องหมายมาตรฐานบังคับ มอก. เครื่องหมายความปลอดภัยด้านสิ่งแวดล้อม เป็นต้น

สถานที่ให้บริการ

ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ (MTEC)

114 อุทยานวิทยาศาสตร์ประเทศไทย

ถ. พหลโยธิน ต. คลองหนึ่ง

อ. คลองหลวง จ. ปทุมธานี 12120

ข้อมูลในการติดต่อขอรับบริการ

ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ (MTEC)

งานบริการลูกค้า

114 อุทยานวิทยาศาสตร์ประเทศไทย

ถ. พหลโยธิน ต. คลองหนึ่ง

อ. คลองหลวง จ. ปทุมธานี 12120

Tel : 0 2564 6500 ต่อ 4109-4111, 4151

คำค้น (Keyword)

สาขาที่ให้บริการ

เอกสารดาวน์โหลด